Medición de la absorción de dos fotones en semiconductores con una técnica basada en variaciones de la potencia láser

Daniel Montoya, Esteban Marulanda, Juan Serna, Hernando Garcia, Edgar Rueda

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    Resumen

    Based on the F-scan technique, in this work we proposed a technique that measures semiconductors’ two-photon absorption coefficients through laser power variations. The technique, dubbed P-scan, uses an electrically-focus tunable lens to retrieve light transmittance signals in the linear and nonlinear absorption regimes. With the rate of the transmittances, a linear function with a slope proportional to the two-photon absorption coefficient could be determined. To verify the technique’s feasibility, P-scan was implemented together with F-scan and Z-scan in the same optical setup. Furthermore, the three techniques were implemented under the same experimental parameters; it was demonstrated that the same value for the effective two-photon absorption coefficient was obtained within experimental uncertainty.

    Título traducido de la contribuciónMeasuring semiconductors two-photon absorption with a technique based on laser power variations
    Idioma originalEspañol
    Número de artículo51109
    PublicaciónOptica Pura y Aplicada
    Volumen55
    N.º2
    DOI
    EstadoPublicada - 2022

    Nota bibliográfica

    Publisher Copyright:
    © Sociedad Espan˜ola de Óptica

    Palabras clave

    • F-scan
    • Two-photon absorption coefficient
    • Z-scan

    Tipos de Productos Minciencias

    • Artículos de investigación con calidad Q4

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